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一個成功的VLSI設(shè)計.少不了一個完備的測試, 芯片測試工作是一個嚴密和系統(tǒng)的工作。[dt_gap height="5" /]
芯片測試應(yīng)該包括兩個含義.一個是流片前各個設(shè)計階段作品的測試；另一個是流片后對實際芯片的測試。這里主要是指流片前的芯片測試，這樣的測試實際上是對 芯片功能的一個全面驗證，在設(shè)計團隊中與芯片設(shè)計并列的一項工作。這項工作需要一個周密的像芯片測試計劃，一個具有針對性的芯片測試平臺。[dt_gap height="5" /]
芯片測試計劃是保證測試成功的基礎(chǔ)，測試計劃包括時間、地點、任務(wù)等內(nèi)容.其重點是測試覆蓋率的計算、設(shè)計和執(zhí)行。理論上覆蓋率的定義是，測試5覆蓋率= 測試到的邏輯組合數(shù)/邏輯組合總數(shù)。在實際操作中,通常根據(jù)需要重新定義測試瘦蓋率。指定計劃的原則是盡量早發(fā)現(xiàn)錯誤，越早發(fā)現(xiàn)錯誤需要重新做的修改丁作 就越少,效率也就越高。把這個概念上升到測試原則來認識對于制定計劃和測試操作都會有好處。[dt_gap height="5" /]
芯片測試平臺以仿真工具軟件包為核心，軟件包提供一個完整的仿真環(huán)境，包括測試文件、標準測試向量文件（Test-Vector File)、標準數(shù)據(jù)文件(Data File）和一些必要的輔助程序，如在芯片測試數(shù)據(jù)輸出文件和標準數(shù)據(jù)文件之間進行比較、報錯.如圖1所示。芯片測試文件設(shè)置基本測試環(huán)境，調(diào)入被測試模塊和標準測試向量文件進行測試，輸出測試結(jié)果，并與標準數(shù)據(jù)文件進行比較。如果出現(xiàn)錯誤，通常需要在仿真丁具軟件包提供的時序波形上進行査錯。
圖1 仿真與測試
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