A、基礎(chǔ)理論技術(shù)
●電子理論與新技術(shù)
●計(jì)量、測(cè)試信息理論
●信息工程理論
●信號(hào)提取、分析與處理
●數(shù)據(jù)壓縮與信息融合
●時(shí)間-頻率分布及變換
●神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)及應(yīng)用
●工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)與應(yīng)用
●人工智能及專家系統(tǒng)
●仿真及應(yīng)用
●仿生電子等邊緣科學(xué)
●測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展和方向
●電子工程數(shù)學(xué)建模
●超導(dǎo)技術(shù)
B、電子設(shè)計(jì)應(yīng)用
●通/專用CPU設(shè)計(jì)加工
●A/D、D/A變換數(shù)據(jù)采集
●模擬、數(shù)字電路設(shè)計(jì)
●即插即用與熱插拔設(shè)計(jì)
●傳感器、控制器設(shè)計(jì)開發(fā)
●IC/SOC設(shè)計(jì)、開發(fā)與測(cè)試
●VHDL開發(fā)與設(shè)計(jì)
●失真與干擾的抑制
●模塊電路設(shè)計(jì)與應(yīng)用
●電源開發(fā)與測(cè)試
●汽車電子應(yīng)用設(shè)計(jì)與測(cè)試
●電力電子技術(shù)
●納米等新材料的開發(fā)、應(yīng)用與測(cè)試
●網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用與測(cè)試
C、工控技術(shù)
●自動(dòng)測(cè)試軟件平臺(tái)
●自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
●環(huán)保工控系統(tǒng)
●PLC/PLD/FPGA
●數(shù)據(jù)采集
●工控方案建立與規(guī)劃
●自動(dòng)監(jiān)控系統(tǒng)
●遠(yuǎn)程工控技術(shù)
D、總線與儀器開發(fā)
●總線技術(shù):VXI、PXI、PCI、compactPCI、GPIB、CAN、USB、1394等總線的開發(fā)、應(yīng)用
●總線系統(tǒng)的組建與集成
●電子儀器的開發(fā)與應(yīng)用
●醫(yī)用電子儀器儀表 |
●農(nóng)林業(yè)儀器開發(fā)應(yīng)用
●基于網(wǎng)絡(luò)的儀器
●儀器總線的應(yīng)用與開發(fā)
●通用機(jī)箱設(shè)計(jì)與應(yīng)用
●數(shù)字化儀器、智能儀器
●卡式和模塊儀器
E、計(jì)(測(cè))量監(jiān)測(cè)
●遙感監(jiān)測(cè)技術(shù)與應(yīng)用
●環(huán)境監(jiān)測(cè)與氣象監(jiān)測(cè)
●基本標(biāo)準(zhǔn)及傳遞方法
●可測(cè)性設(shè)計(jì)
●校準(zhǔn)、計(jì)量和標(biāo)準(zhǔn)
●LF/RF/MW/WMW測(cè)量應(yīng)用
●模/數(shù)電路測(cè)試
●多片模塊測(cè)試
●時(shí)間、頻率及數(shù)據(jù)域測(cè)量
●反射、傳輸和衰減測(cè)量
●通信測(cè)試及儀器
●聲測(cè)試和振動(dòng)測(cè)試
●壓力、溫度及濕度測(cè)試
●非電量參數(shù)的測(cè)量
●激光測(cè)試/組件分析
●EMC/EMI測(cè)試
●表面檢測(cè)與分析
●IDDQ測(cè)試、無損檢測(cè)
●邊界掃描測(cè)試
●電路板檢測(cè)
●LSI/VLSI/ALSI測(cè)試診斷
●信息捕捉、記錄新技術(shù)
●故障診斷與建模
F、CAD、CAM與CAE、CAT技術(shù)
●儀器與計(jì)算機(jī)融合
●接口技術(shù)
●基于PC的儀器開發(fā)
●計(jì)算機(jī)控制技術(shù)
●數(shù)據(jù)存儲(chǔ)技術(shù)
●移動(dòng)存儲(chǔ)設(shè)備開發(fā)
●芯片組集成開發(fā)與設(shè)計(jì)
G、軟件工程
●軟件編程與驅(qū)動(dòng)開發(fā)
●嵌入操作系統(tǒng)與軟件
●數(shù)據(jù)庫開發(fā)與應(yīng)用
●虛擬儀器軟件系統(tǒng)開發(fā)
●安全軟件開發(fā)與設(shè)計(jì)
●模式識(shí)別(文字識(shí)別、圖象識(shí)別、語音識(shí)別)及應(yīng)用
●電源管理軟件技術(shù)
●多系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)程序的開發(fā)
H、其它電子與測(cè)控技術(shù) |