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作者:
Peter Aschof - Tel Instrument Electronics Corp.
Tel Instrument Electronics主要生產(chǎn)商業(yè)和國防電子行業(yè)用的航空電子斜坡測(cè)試設(shè)備。每臺(tái)斜坡測(cè)試設(shè)備均隨附一條雙向天線，我們已經(jīng)生產(chǎn)了5,000多套需要使用這種天線的測(cè)試設(shè)備。
通過測(cè)試來驗(yàn)證天線是否正常運(yùn)行是一個(gè)非常繁瑣的過程，因而我們亟需一個(gè)能夠滿足生產(chǎn)需求的測(cè)試解決方案。其中一種方案是使用信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀和功率計(jì)來進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試。然而，NI為我們提供了一個(gè)由PXI-1044機(jī)箱、PXI-5660射頻矢量信號(hào)分析儀和PXI-5670射頻矢量信號(hào)發(fā)生器組成的解決方案，使我們能夠生成自動(dòng)化測(cè)試，從而解決了這一難題。通過自定義的軟件和定制的天線艙，我們成功地實(shí)現(xiàn)了天線測(cè)試的自動(dòng)化。
使用LabVIEW開發(fā)測(cè)試系統(tǒng)的用戶界面
LabVIEW測(cè)試涉及圖形用戶界面（GUI）、雙頻生成、天線馬達(dá)旋轉(zhuǎn)、以波特圖顯示測(cè)量數(shù)據(jù)，以及測(cè)試結(jié)果。
操作者可通過GUI輸入產(chǎn)品型號(hào)、操作者姓名和序列號(hào)。此外，波特圖可顯示在屏幕上，測(cè)量也可使用LabVIEW來完成。我們使用復(fù)雜的互連程序框圖來控制程序流和檢測(cè)儀表以及對(duì)信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量結(jié)果將顯示通過/失敗狀態(tài)。
為了讓操作者清晰地看到結(jié)果，該解決方案可將測(cè)試結(jié)果以可讀的格式打印出來，上面顯示了通過/失敗狀態(tài)以及波特圖。我們將打印結(jié)果作為測(cè)試記錄，并進(jìn)行存檔以備將來參考。
新的測(cè)試系統(tǒng)每年可節(jié)省500小時(shí)的時(shí)間耗費(fèi)
Tel Instrument Electronics的工程師和研發(fā)人員使用NI軟件和硬件創(chuàng)建了一個(gè)自動(dòng)化解決方案，只需短短五分鐘就能成功地測(cè)試天線的運(yùn)行狀態(tài)，相比之前每次30分鐘的手動(dòng)測(cè)試來說，顯然快了很多，相當(dāng)于我們每年可以節(jié)省500個(gè)小時(shí)的自動(dòng)化測(cè)試時(shí)間。
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