隨著我國(guó)新型基礎(chǔ)設(shè)施加快建設(shè)、工業(yè)4.0加速發(fā)展,新興的 3C 產(chǎn)品如 VR/AR、可穿戴設(shè)備、手環(huán)、智能手表、無(wú)人機(jī)等,正逐漸向大眾生活延伸。受益于集成電路技術(shù)和互聯(lián)網(wǎng)的快速發(fā)展,3C 產(chǎn)業(yè)快速成長(zhǎng),而生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè)面臨諸多挑戰(zhàn)。
SICK 3D相機(jī)產(chǎn)品線多樣,算法強(qiáng)大,可以根據(jù)特定的視野及特殊工況進(jìn)行定制化,為客戶提供更靈活的3D檢測(cè)方案,滿足生產(chǎn)效率,降低生產(chǎn)成本,改善生產(chǎn)質(zhì)量。
應(yīng)用案例目錄
手機(jī)&TWS零部件檢測(cè)
連接器檢測(cè)
膠路檢測(cè)
注塑零部件尺寸檢測(cè)
電子元器件尺寸檢測(cè)
應(yīng)用名稱 手機(jī)&TWS零部件檢測(cè)
應(yīng)用描述
在手機(jī)的零部件制造及組裝過(guò)程中,3D的檢測(cè)類型較為多元化,包括尺寸、高度、外觀、有無(wú)等。其中典型的應(yīng)用包括:
高度段差檢測(cè),重復(fù)性精度 ≤0.02mm;
平面度檢測(cè),重復(fù)性精度 ≤0.02mm;
手機(jī)邊框距離檢測(cè),重復(fù)性精度 ≤0.02mm.
選用SICK RulerX70系列一體式3D相機(jī),可兼容多種尺寸,助力產(chǎn)線自動(dòng)化。
應(yīng)用選型
SICK 3D相機(jī)RulerX系列:RulerX20,RulerX40,RulerX70
應(yīng)用難點(diǎn):
1.產(chǎn)品種類多,視野多樣。SICK產(chǎn)品線豐富,均有產(chǎn)品配套。
2.顏色類型多,高反光,兼容性要求高。SICK高性能的成像技術(shù),真實(shí)還原產(chǎn)品細(xì)節(jié)數(shù)據(jù),在復(fù)雜的光亮表面上確保高精度檢測(cè)的效果。
3.檢測(cè)速度快,節(jié)拍要求高。SICK M30芯片掃描幀率高達(dá)46KHz,在高速下輕松實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。
應(yīng)用圖示:
a) 手機(jī)零部件有無(wú)檢測(cè)

b) 手機(jī)邊框高度差檢測(cè)

c) 耳機(jī)高度差&高度檢測(cè)

應(yīng)用名稱 連接器檢測(cè)
應(yīng)用描述
連接器指電器接插件,用于連接兩個(gè)有源器件的器件,傳輸電流或信號(hào)。連接器的PIN針壓入的深度、平面度對(duì)于連接器質(zhì)量至關(guān)重要。該類型主要檢測(cè)內(nèi)容:
連接器高度檢測(cè),重復(fù)性精度 ≤0.02mm;
連接器共面度檢測(cè),重復(fù)性精度 ≤0.02mm.
應(yīng)用選型
SICK 3D相機(jī)RulerX/RulerXC系列
應(yīng)用難點(diǎn):
1.產(chǎn)品種類多,視野多樣。SICK產(chǎn)品線豐富,均有產(chǎn)品配套。
2.檢測(cè)速度快,節(jié)拍要求高。SICK M30芯片掃描幀率高達(dá)46KHz,在高速下輕松實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。
3.PIN針長(zhǎng)短不一,頂部針尖反光。SICK高性能的成像技術(shù),真實(shí)還原產(chǎn)品細(xì)節(jié)數(shù)據(jù),在復(fù)雜的光亮表面上確保高精度檢測(cè)的效果。
應(yīng)用圖示:
a) 連接器高度段差檢測(cè)

b) Pin針共面度,位置度檢測(cè)

應(yīng)用名稱 膠路檢測(cè)
應(yīng)用描述
伴隨點(diǎn)膠工藝的日趨成熟,點(diǎn)膠設(shè)備具有低成本,高精度、易拆洗等特點(diǎn)。膠體的種類繁多,包括UV膠,AB膠,熱熔膠等。檢測(cè)內(nèi)容包括:
判斷有無(wú)斷膠、溢膠;
檢測(cè)膠寬、膠高,重復(fù)性精度 ≤0.02mm.
應(yīng)用選型
SICK 3D相機(jī)RulerX/RulerXC系列
應(yīng)用難點(diǎn):
1.膠體種類多,反光特性不一致。SICK產(chǎn)品線豐富,均有產(chǎn)品配套。
2.檢測(cè)速度要求400mm/s以上,節(jié)拍要求高。SICK M30芯片掃描幀率高達(dá)46KHz,在高速下輕松實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。
3.臺(tái)階物體遮擋,膠體形態(tài)不完整。SICK高性能的成像技術(shù),真實(shí)還原產(chǎn)品細(xì)節(jié)數(shù)據(jù),在復(fù)雜的光亮表面上確保高精度檢測(cè)的效果。
應(yīng)用圖示:
a) 透明膠路圖像

b) 圓弧部分涂膠檢測(cè)

應(yīng)用名稱 注塑零部件尺寸&外觀檢測(cè)
應(yīng)用描述
外觀檢測(cè):
臟污、堵孔、破損、雙層網(wǎng)布和多注塑襯套不良現(xiàn)象。
檢測(cè)硅膠寬度、破損、劃痕、進(jìn)膠口高度、密封膠溢膠脫落等,重復(fù)精度≤0.02mm.
應(yīng)用選型
SICK 3D相機(jī)RulerXR系列
應(yīng)用難點(diǎn):
1.產(chǎn)品種類多,反光特性不一致。SICK產(chǎn)品線豐富,均有產(chǎn)品配套。
2.狹窄視角,縱深拍攝。SICK RulerXR相機(jī)配套的帶通濾鏡優(yōu)化景深,將反光噪點(diǎn)盡可能減少至最小。
應(yīng)用圖示:

應(yīng)用名稱 電子元器件檢測(cè)
應(yīng)用描述
電子元器件作為儀器的重要組成部分,為了保證其功能的完整性,確保生產(chǎn)合格,需要對(duì)PCB的針腳高度,焊錫的高度/體積、特征高度等進(jìn)行測(cè)量。
檢測(cè)元器件有無(wú)缺失;
檢測(cè)元器件高度段差,判斷是否組裝到位,重復(fù)性精度 ≤0.02mm.
應(yīng)用選型
SICK 3D相機(jī)RulerX/RulerXC/RulerXR系列
應(yīng)用難點(diǎn):
1.產(chǎn)品種類多,精度要求高。SICK產(chǎn)品線豐富,均有產(chǎn)品配套。
2.檢測(cè)速度快,節(jié)拍要求高。SICK M30芯片掃描幀率高達(dá)46KHz,在高速下輕松實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。
3.單個(gè)電路板的元器件多,部分有高反光。SICK高性能的成像技術(shù),真實(shí)還原產(chǎn)品細(xì)節(jié)數(shù)據(jù),在復(fù)雜的光亮表面上確保高精度檢測(cè)的效果。
應(yīng)用圖示:
電子元器件高度段差,有無(wú)缺失檢測(cè)

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