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BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)
關鍵詞：熱電，賽貝克系數(shù)，電阻率
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動態(tài)法和四線法保證測試結果的準確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
產(chǎn)品特點
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。
● 測試環(huán)境溫度范圍達到81K~700K。
● 采用動態(tài)法測 量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準確。
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設計，方便進行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡單，智能化可實現(xiàn)全自動模式。
產(chǎn)品技術參數(shù)
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型號
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BKTEM-B1
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溫度范圍
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RT
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測試氣氛
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空氣
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測量范圍
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賽貝克系數(shù)：|S| ≥ 8μV/K
電阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m
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分辨率
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澤貝克系數(shù)：0.05μV/K
電阻率：0.05μΩ•m
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相對誤差
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賽貝克系數(shù) ≤ ±7%
電阻率 ≤ ±10%
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樣品尺寸
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長度:10mm~18mm；寬度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm
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主機尺寸
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170x250x220（mm）
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重量
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3.5kg
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