|
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：熱電，賽貝克系數(shù)，電阻率
BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動(dòng)態(tài)法和四線法保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
產(chǎn)品特點(diǎn)
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。
● 測試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。
● 采用動(dòng)態(tài)法測 量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準(zhǔn)確。
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設(shè)計(jì)，方便進(jìn)行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡單，智能化可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)模式。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
|
型號(hào)
|
BKTEM-B1
|
|
溫度范圍
|
RT
|
|
測試氣氛
|
空氣
|
|
測量范圍
|
賽貝克系數(shù)：|S| ≥ 8μV/K
電阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m
|
|
分辨率
|
澤貝克系數(shù)：0.05μV/K
電阻率：0.05μΩ•m
|
|
相對誤差
|
賽貝克系數(shù) ≤ ±7%
電阻率 ≤ ±10%
|
|
樣品尺寸
|
長度:10mm~18mm；寬度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm
|
|
主機(jī)尺寸
|
170x250x220（mm）
|
|
重量
|
3.5kg
|
|
